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FEI FIB雙束掃描電鏡技術(shù)優(yōu)勢(shì)

時(shí)間:2022-12-27  點(diǎn)擊次數(shù):2497

● 高性能的Elstar電子束鏡筒結(jié)合UC+單色器的技術(shù), 實(shí)現(xiàn)了亞納米級(jí)的SEM 和S/TEM圖像分辨率

● 杰出的低kV Phoenix離子束性能使TEM樣品制備時(shí)可以達(dá)到只有亞納米級(jí)的 損傷

● 可以通過多達(dá)5個(gè)集成束內(nèi)和透鏡下探測(cè)器獲得清晰的、精細(xì)的、免費(fèi)的 對(duì)比圖像

● MultiChem氣體輸送系統(tǒng)為在雙光束平臺(tái)下電子和離子束誘導(dǎo)沉積和刻蝕 提供了最先進(jìn)的技術(shù)支持。

● EasyLift EX 納米操 作手能夠精確的、定點(diǎn)的制備超薄TEM薄片,同時(shí)提高 了用戶的信任度和產(chǎn)量

● STEM 4 探測(cè)器在TEM薄片樣品上提供了出色的分辨率和對(duì)比度

● 來自Thermo Fisher Scientific 在雙光束應(yīng)用內(nèi)失效分析領(lǐng)域內(nèi)的世界級(jí) 的專業(yè)知識(shí)的支持

 

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